數(shù)字超聲波測(cè)厚儀儀器特點(diǎn)
　　◆  高對(duì)比的斷碼液晶顯示，高亮度EL背光，方便在光線昏暗環(huán)境中使用。操作簡便，所有功能都通過鍵盤按鍵實(shí)現(xiàn)
　　◆ 顯示精度MT150為0.1可調(diào)、MT160為0.01/0.1可調(diào)（如圖左為MT150、右為MT160）
　　◆  聲速可調(diào)，適應(yīng)對(duì)多種材料測(cè)量，已知厚度可以反測(cè)聲速，以提高測(cè)量精度。
　　◆  可配備多種不同頻率、不同晶片尺寸的雙晶探頭使用。兼容多種探頭（高溫、鑄鐵、小管徑）無需校準(zhǔn)自動(dòng)識(shí)別。
　　◆  具有探頭零點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)功能, 可對(duì)系統(tǒng)誤差進(jìn)行自動(dòng)修正。
　　◆  具有開機(jī)校準(zhǔn)功能。
　　◆  具有單點(diǎn)測(cè)厚和掃描測(cè)厚兩種測(cè)厚工作模式，測(cè)量周期單點(diǎn)測(cè)量時(shí)4次/秒、掃描模式10次/秒。
　　◆  具有耦合狀態(tài)提示功能。
　　◆  有剩余電量指示功能，可實(shí)時(shí)顯示電池剩余電量，低功耗設(shè)計(jì)，AA五號(hào)電池待機(jī)50個(gè)小時(shí)。
　　◆  具有自動(dòng)休眠、自動(dòng)關(guān)機(jī)等節(jié)電功能。
　　◆  可存儲(chǔ)20組（每組***多100個(gè)測(cè)量值）厚度測(cè)量數(shù)據(jù)。
　　◆  適合測(cè)量金屬(如鋼、鑄鐵、鋁、銅等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纖維及其他任何超聲波的良導(dǎo)體的厚度。
　　◆  MT160帶有RS232接口，可以方便、快捷地與PC機(jī)進(jìn)行數(shù)據(jù)交換?？梢赃B接到微型打印機(jī)（廠家型號(hào)）現(xiàn)場(chǎng)打印測(cè)量報(bào)告，低端價(jià)位的小廠家的無打印機(jī)，有打印機(jī)的是指針式打印機(jī)，不是熱敏高速打印，時(shí)代公司的TH160熱敏打印機(jī)，但是價(jià)格昂貴。
　　◆  MT160可選擇配備微機(jī)軟件，具有傳輸測(cè)量結(jié)果、測(cè)值存儲(chǔ)管理、測(cè)值統(tǒng)計(jì)分析、打印測(cè)值報(bào)告等豐富功能，小廠家的沒有軟件，有軟件的不是標(biāo)配。
　　◆  塑料外殼，精美曲線設(shè)計(jì)，整機(jī)重量245G，小巧、便攜、可靠性高，適用于惡劣的操作環(huán)境，抗振動(dòng)、沖擊和電磁干擾。
　　數(shù)字超聲波測(cè)厚儀操作使用方法與注意事項(xiàng)
　　◆ 工件表面粗糙度過大，造成探頭與接觸面耦合效果差，反射回波低，甚至無法接收到回波信號(hào)。對(duì)于表面銹蝕，耦合效果極差的在役設(shè)備、管道等可通過砂、磨、挫等方法對(duì)表面進(jìn)行處理，降低粗糙度，同時(shí)也可以將氧化物及油漆層去掉，露出金屬光澤，使探頭與被檢物通過耦合劑能達(dá)到很好的耦合效果。
　　◆ 工件曲率半徑太小，尤其是小徑管測(cè)厚時(shí)，因常用探頭表面為平面，與曲面接觸為點(diǎn)接觸或線接觸，聲強(qiáng)透射率低。超聲波探測(cè)儀可選用小管徑探頭<6mm ,能較的測(cè)量管道等曲面材料。
　　◆ 檢測(cè)面與底面不平行，聲波遇到底面產(chǎn)生散射，探頭無法接受到底波信號(hào)。
　　◆ 鑄件、奧氏體鋼因組織不均勻或晶粒粗大，超聲波在其中穿過時(shí)產(chǎn)生嚴(yán)重的散射衰減，被散射的超聲波沿著復(fù)雜的路徑傳播，有可能使回波湮沒，造成不顯示?？蛇x用頻率較低的粗晶探頭(2.5MHz)。
　　◆ 探頭接觸面有一定磨損。常用測(cè)厚探頭表面為丙烯樹脂，長期使用會(huì)使其表面粗糙度增加，導(dǎo)致靈敏度下降，從而造成顯示不正確?？蛇x用500#砂紙打磨，使其平滑并保證平行度。如仍不穩(wěn)定，則考慮更換探頭。
　　◆ 被測(cè)物背面有大量腐蝕坑。由于被測(cè)物另一面有銹斑、腐蝕凹坑，造成聲波衰減，導(dǎo)致讀數(shù)無規(guī)則變化，在情況下甚至無讀數(shù)。
　　◆ 被測(cè)物體(如管道)內(nèi)有沉積物，當(dāng)沉積物與工件聲阻抗相差不大時(shí)，測(cè)厚儀顯示值為壁厚加沉積物厚度。
　　◆ 當(dāng)材料內(nèi)部存在缺陷時(shí)，顯示值約為公稱厚度的70%，此時(shí)可用超聲波探傷儀或者帶波形顯示的測(cè)厚儀進(jìn)一步進(jìn)行缺陷檢測(cè)。